集成电路（Integrated Circuits）是由小型电子元件（器件）和电路元件，以及微小的电子设备安装在一块压片上，形成一个完整的微系统制成的电子元件，是现代电子技术中一种重要的新型元件。正常情况下，集成电路可以满足人们对电子技术的要求，然而，一旦由于环境条件或多种原因造成集成电路损坏，这就会对其正常的正常运行造成严重影响。因此，为了确保集成电路的正常运行，必须仔细检测它和发现缺陷，以便及时纠正和更正。
针对集成电路的检测方法不仅涉及它的制造和设计，而且包括它的使用效果、使用寿命、使用环境和其它性能测试。以下介绍几种检测集成电路常用的检测方法：
1、杂散度测试。通常将集成电路放在半导体探头测试设备中，通过测量接触位置上的电压变化和电流变化，以及驱动信号和被驱动信号之间的电压变化来检测，以便测试集成电路的故障。
2、静态检测。通过传统的惯性测试方法，可以检测集成电路的各个环境参数的变化是否会对其导致故障或影响性能。
3、动态检测。对集成电路的动态变化进行测量和判断，以及高频功能的测试。
4、温度测试。通过测量温度，预测和确认集成电路在不同的温度环境下是否会导致故障或影响性能。
因此，对于难以检测的集成电路，上述检测方法中的任何一种都可以有效检测出可能存在的故障，实现高效、安全可靠的集成电路使用，而且可以更好地改善其设计和制造质量。
