晶体管作为一种电子器件，是电子技术发展的结晶。它综合了射频技术、电路技术、互连技术和微机技术，通过控制电子流的方式，来实现计算机运算、信号放大与叠加等功能。因此，它在电子计算、控制、通信领域起着重要作用。正因为晶体管如此重要，在生产晶体管时，必须进行严格的测试。
晶体管的性能参数的测量是为了确保生产的晶体管的规格和功能正确以及符合要求。测试的主要内容包括功耗测量、静态特性测量、动态特性测量等。首先是功耗测量，包括采集晶体管的功耗参数，这与其工作状态有关；其次是静态特性测量，包括晶体管的特性参数，比如输入电阻、输出电流等等；最后是动态特性测量，检查晶体管的动态特性，比如输入电容与输出电容的关系，以及晶体管的频率响应特性。
为了保证产品质量，建议每批晶体管在生产前和生产后分别进行测试，以确保其质量合格。测试时既需要利用测试仪器，也需要充分借助计算机，将数据准确录入和处理，以给出正确的性能报告。
总之，测试晶体管是必不可少的，能确保晶体管的质量合格，实现预期的功能性能。
