晶体管特性图示仪是电子工程领域有关的分析仪器，主要用于检测电子元件的特性参数，如 V-I 曲线、串联电阻、截止电流等，因而准确确定集成电路的状态。有鉴于此，在使用晶体管特性图示仪时，我们需要注意以下几点。
首先，应正确链接晶体管特性图示仪，如将两个探头链接到 VCC 和 GND 上，将另一个探头接到晶体管的 BASE 端子，将最后一个探头链接在晶体管的 COLLECTOR 端子上。然后，使用户可以根据实际情况设置各个参数，如集电极电流、电源电压大小、测试频率、直流截止电压和直流偏置电压等。
接下来，使用者可以开始测量，这部分需要注意的是，在进行晶体管特性图示仪测量的时候，需要将集电极电流图示仪设置为高增益模式，然后将集电极电压调整为 0V，使放大器取得最佳性能，最后将集电极电流和集电极电压以正确的方向连接到测量图示仪上，即可测量出元件的 V-I 曲线特性。
最后，在使用完毕后，需要做好收尾的工作，如将探头断开，设置量程在 0mV 到 0.5V 范围，同时将电源电压关闭，这样可以确保晶体管特性图示仪的安全。
总的来说，正确使用晶体管特性图示仪，可以准确确定集成电路的状态，从而保证电子元件当中的一致性和可靠性，确保安全可靠地使用电子元件。
