晶体管特性仪也称为晶体测试仪，是一种高精度、专用仪器，可以测量单块或多块晶体管的特性曲线。它可以测量晶体管的精密特性参数，如最大集电极-发射极阻抗、最低阈值电压、内部电容等。晶体管特性仪是半导体晶体管评估和应用研究的重要工具，其应用也有很多种类。
首先，晶体管特性仪在半导体技术开发过程中起着重要作用，可用于测试半导体晶体管的特性曲线，以确定晶体管的性能特性，为半导体技术开发和应用奠定基础。其次，晶体管特性仪也可以用于做现场诊断测试，如在一些新型台式机、笔记本电脑、移动电话等设备中，为保护设备，进行现场开关特性检测、综合测试、微机控制和模拟信号测试等晶体管测试，广泛用于电子设备制造领域。
晶体管特性仪是一种高精度、有效的测量仪器，用于测试晶体管，具有多种应用，是半导体技术开发和晶体管诊断现场测试的重要工具，应用范围日益增长。
