铜电阻率和电阻都是电子部件中常用的物理电参量。二者的主要体现形式是电压和电流的一种特殊比值，也就是电阻。铜电阻率与电阻的重要区别在于，铜电阻率的实际值是电子元件在真实状态下的电阻值，而电阻只是预计值，是基于一些固有属性估算出来的，不一定精确反映真实状态，甚至可能会有一定偏差。
电子元件的性能评估时，铜电阻率的测量数据是必不可少的，由于铜电阻率引起的电流限制可以大大提高电子元件的可靠性。铜电阻率的测量一般使用电子频谱仪进行，它们可以测出元件的真实状态，可以得到最精确的数据。
由于把铜电阻率作为参考值，可以对电子元件的性能进行准确的评估，因此，铜电阻率已经成为了电子元件系统中评估器件可靠性的基本参量。除了电子元件之外，在高精度测量应用里面，铜电阻率的测量也是非常重要的，其准确的度量可以帮助我们做出更准确的结果，从而改善工程技术水平。
总之，铜电阻率和电阻都是电子元件性能评估过程中重要的参量，但若只停留在电阻参数上，未能发挥铜电阻率的优势，就会降低电子元件的可靠性，甚至可能对电子系统产生不利影响。
