有机薄膜电容器作为有机电子元件的重要分支，在电子信息、自动控制技术等领域有着重要的应用。由于有机薄膜电容器表面绝缘层厚度小、温度特性变化幅度大等问题，以往都是通过传统的始终结实验测试方法来计算其绝缘电阻值，但是这种方法耗时高，不够准确。有机薄膜电容器随时间变化性质的研究对于有机薄膜电容器及相关系统的发展是十分必要的。
在研究中，采用了恒电流恒压法，通过固定的充放电流和电压，不断刷新电容器内部的电压值并使其处于稳定状态，并通过不断测量绝缘电阻来分析有机薄膜电容器随时间的变化及其对绝缘电阻值的影响。实验结果表明，随着应用时间增长，有机薄膜电容器的绝缘电阻值变化很小，这说明电容器的绝缘性是相当优良的。
因此，该研究表明，有机薄膜电容器的处理过程对其绝缘电阻值的影响较小，并且它的绝缘电阻值随着应用时间的延长而几乎不变。同时，还指出如何改进有机薄膜电容器在实际应用中的品质，使其更加适用于对重要电话系统的应用。这对于提高电子装置的和对系统运行的安全性有着重要意义。
