数字集成电路（Digital Integrated Circuits, DI5C）是一种由多种电子元件构成的电路，它能通过某种方式处理信息并根据信号输入和输出生成准确的指令。数字集成电路测试（Digital Integrated Circuit Test，DICT）是用来确保数字集成电路功能正确性的测试方法。这种测试可以检测末端元件，末级输出，状态和系统总体表现。
一般来说，数字集成电路测试分为四类：结构测试（Structural Test），功能测试（Functional Test），放大器测试（Amplifier Test）和系统性能测试（System Performance Test）。结构测试是检查电路的结构，包括内部的接口，此类测试可以确保低级电路可以正常工作、结构无损，反应无错误。功能测试是检查特定功能是否正确，典型的功能测试是储存器测试，这是一种特殊的测试，用来测试数据在存储器中如何访问和被访问。放大器测试是用来测试电路之间的信号传输强度，这种测试可以保证小信号可以传送到
