数字集成电路（Digital Integrated Circuit，简称DIC）是通过两个以上的晶振器、电阻器、LED等元件及元件组合而成的一种电路，它可以让电子元器件大幅压缩，成为现代电子设备中不可缺少的一个部分。对数字集成电路进行测试是相当重要的，它可以评价集成电路的可靠性和性能。
数字集成电路测试主要包括三个方面：功能测试、结构测试和对外访问测试。首先，功能测试是针对电路的功能进行的测试，采用基于设计的测试方法，实施者必须了解电路的功能以及与此相关的输入输出标准。其次，结构测试是为了检查数字电路的结构，是在电路之间进行连接，并使用相关的测试技术进行诊断，以确保结构的正确性和完整性。最后，对外访问测试是要检查电路模块与外部电路模块之间的逻辑连接，它采用基于模型的测试方法，通过模型验证来检查集成电路的性能。
数字集成电路测试是确保其性能优良的重要一环，既可以保证其质量，又能有效排除缺陷，提高电子设备的可靠性。同时，数字集成电路测试还能够确定电路的最大功耗以及电迹型号等，以便用户可以精确判断、使用集成电路。
