数字集成电路测试原理是指，利用分析设备测量数字集成电路(IC)组件及其电子器件内部的特性，以反映外部表现的测试技术。它是数字集成电路的主要检测手段之一。
根据检测要求，数字集成电路测试原理可以分为两种：功能检测原理和性能检测原理。功能测试是检测IC组件各项功能及其性能的基本原理，它的准确性直接影响着新产品的质量。功能测试主要有两种方法：一种是用“开关规则”检测方法，及采用硬件.软件。它们能够检测出芯片内部功能单元的逻辑性；另一种方法是用“周期性进行检测方法”，通过对芯片输入输出信号的连续接入来实现检测。
另一种测试原理是性能检测原理，它是利用硬件设备测量数字集成电路内部各项特性的技术，如：静态性能检测（输入电压，输出电压，功耗，抖动，反应时间等），动态性能检测（温度，信号质量，稳定性，干扰强度等）以及结构性能检测（封装，粒子等级，粒子尺寸，表面连接等）。
总之，数字集成电路测试原理是一种重要的测试技术，它不仅可以用来检测芯片内的功能和性能特性，还可以用来测试芯片结构，以帮助开发者更加完善地制造出质量更加优良的产品。
