数字集成电路是一种由微处理器或微处理器核心组成的集成电路，可执行算法和实现许多电子设备的技术要求，是当今电子工程中使用最多的产品之一。它们采用微处理器的功耗低、速度快、功能强大、节省成本，产生了众多的应用，并对电子设备的设计具有重要的影响。
数字集成电路测试是一项重要的质量控制任务，旨在确保设计的可靠性、高质量标准和可靠性，从而满足用户要求。它主要包括功能测试、性能测试、稳定性测试、抗干扰测试等。采用便携式设备进行测试可以大大简化测试过程，控制测试成本。
在数字集成电路测试过程中，需要使用测试工具开展测试，使用工具来协助测试人员分析和诊断，有助于发现潜在问题，提高测试效率。这种方式主要包括：信号源端到端示波器（Oscilloscope）、示波器、数字存储范围示波器（Digital Storage Oscilloscope）、数字重构示波器（Digital Reconstruction Oscilloscope）、示波衰减器（Spectrum Analyzer）、数据套线仪器（Data Acquisition Unit）和信号发生器（Signal Generator）等。
此外，需要注意的是，数字集成电路测试还需要注意语音及热效应，使用特定材料和工艺工具，使数字集成电路的温度能够符合额定条件，从而保证数字集成电路稳定性、可靠性和质量。
综上所述，数字集成电路测试是一个复杂的过程，不仅具有良好的理论基础，而且还要通过多种测试工具和材料来完成，从而确保质量和可靠性。
