数字集成电路(Digital Integrated Circuit，简称DIC)是在半导体器件的基础上通过排列组合而成的电路，它是由许多基本元件（如电封接，门电路，电位器，放大器等）组成的整体电路。它的工作机理与普通的逻辑电路完全一样，但是它能够处理复杂的信号处理任务，可以处理大量的数字信号，并可以实现大规模的集成电路工作。
数字集成电路测试用来检验器件和电路的性能参数，发现其中可能存在的故障，并分析原因。数字集成电路测试原理主要有：静态测试、动态测试和可靠性测试。
静态测试通常使用综合测试工具，用来测试数字集成电路的物理结构，以及其对外部信号的响应情况等；动态测试则使用了强化流水线外部信号和检测内部有效信号的定义样本应用程序；可靠性测试则较少，利用功能测试对器件进行多种实际环境的模拟测试，以了解整个集成电路的长期工作状况。
数字集成电路测试是一项技术性很强的工作，它不仅具有很高的技术难度，而且还带有一定的风险性，对测试人员要求很高。只有通过深入理解和正确应用数字集成电路测试原理，才能保证在测试过程中真正做到“提高效率，提高质量”的宗旨，以确保测试结果准确可靠。
