晶体管是一种常用的电子器件，是一种可控的半导体电子器件，具有可控的二极管电特性。晶体管特性仪是一种专门用来测量晶体管特性的仪器，可以帮助我们测量晶体管的基本电特性，如电压到电流（V-I）特性，电流到电压（I-V）特性，电容到电流（C-I）特性，功率到电压（P-V）特性，功率到电流（P-I）特性，电容到电压（C-V）特性等。
晶体管特性仪用于测量晶体管及它们的工作状态，其中包括晶体管的导通率，封装特性，漏电流以及输出参数等，可以帮助测试晶体管是否正常、观测晶体管特性以及测量各种电路特性，如功率、电容、电阻和导纳等。
此外，晶体管特性仪还可以测量晶体管的可靠性参数和动态参数，以及其他仪表。在选择此类仪表时，要注意其可靠性和准确性，以保证测量准确度。
晶体管特性仪适用于工厂晶体管的生产和原型设计中，也可用于维护和检测晶体管的电路及其性能，以确保晶体管正常工作。
总之，晶体管特性仪是测量晶体管电特性的重要仪器，可以帮助我们更准确的测量晶体管的特性，以及在研究、设计、维护晶体管的电路时获得正确的参数。
