CMOS（complementary metal oxide semiconductor，互补金属氧化物半导体）数字集成电路是一种强大的电路技术，具有器件封装小体积、耗电量低、低成本等特点，是现代电子设备设计中最常使用的器件。它的应用涉及到传感器、无线接口、嵌入式系统、智能终端、图像处理和视频处理系统等。
正确设计、分析和测试CMOS数字集成电路是任何电子设备设计的重要步骤。正确的设计可以确保电路正常工作，而分析和测试可以确保电路符合规范，克服潜在的缺陷，满足预期的性能。
CMOS数字集成电路分析常常使用标准化的仿真和建模技术，如时域和MacroEE仿真，以了解电路的特性和识别潜在的问题，包括迟滞、时延和时变等。一旦一个电路已经设计完成，就可以进行测试以确认它能够完成其功能。有几种种技术可以用于CMOS数字集成电路的测试，如输入/输出检测、静态和动态测试等。
要保证CMOS数字集成电路的可靠性和性能，这些步骤必须在设计开发过程中正确执行，这也是CMOS数字集成电路能够成功应用到各种电子产品的关键。
