CMOS（环型金属氧化物半导体）数字集成电路是电子工业中广泛使用的集成电路，它由多个电路元件组成，可以有效地执行一系列功能。为了确保CMOS数字集成电路能够正常工作，从设计到制作，必须要对其进行分析和测试。
从设计角度来说，CMOS数字集成电路的分析包括电路的可用性分析和性能分析，它可以提前预测出电路的运行情况，进而和设计要求进行对比，以确保设计是正确的，能够满足其设计目的。在这一过程中可以应用工艺计算软件、电路分析软件和集成电路仿真模型等多种软件工具。
制造角度来看，CMOS数字集成电路的测试包括功率测试、动态测试和功能测试等，它是用来检查集成电路是否能够正常工作的重要环节。在这一过程中可以应用故障模拟、仿真测量和高速存储器测量等多种测试技术和设备工具。
综上所述，CMOS数字集成电路的分析与测试是保证其高可靠性和正常工作的关键因素，因此在设计、制造过程中必须进行严格的分析与测试，以确保产品的质量。
