数字集成电路（Digital Integrated Circuit，简称DIC）是一种用于提高微电子产品功能的重要元器件，它主要利用模拟电路与逻辑电路的相结合，可以多种功能集成在一个小型的集成电路中，实现小的体积、低的故障率、高的性能、高的功耗效率以及低成本等优势，因此，它被用于数字通信、控制系统、汽车系统、航空航天系统、计算机网络中以及一些工业设备等方面。为了确保数字集成电路在应用中正常运行，需要建立一套完整的测试系统，并且基于最新的技术来解决测试难题和测试过程中的问题。
近年来，数字集成电路测试系统的研究取得了很大的进展，采用了新技术和方法，如分层测试、测试模型构建、设计自动化测试等技术。首先，在分层测试中，采用了不同技术和方法，如扩散测试、半速测试、重构测试等，以提高测试效率，并且采用预测算法，可以避免出现未知结果的情况。其次，建立测试模型采用了有限自动机等方法，在复杂的DIC环境中，可以发现微小的测试问题，并且采用自动化测试，可以大大提高测试效率，提高产品质量。
总的来说，数字集成电路测试系统的研究旨在解决DIC设计过程中的测试难题，同时还可以提高测试效率，提高产品质量，为用户提供一个安全、可靠的产品环境。
