CMOS数字集成电路是当今计算机科技发展的主要方向，其速度、功率损耗和体积都具有很大优势。它的发展催生了一系列技术，如它们的分析与测试。
分析是CMOS数字集成电路设计的关键步骤，它旨在通过正确的模型捕获电路特性。常用的分析工具之一是SPICE模拟程序，它基于从电路的参考模型中提取的差分方程模拟电路性能。采用SPICE工具分析CMOS电路允许设计者收集信息，如交叉电压、波形变量、延迟时间等，这些信息有助于优化降低功耗，缩短延迟时间，解决特定问题和实现复杂的功能。
测试是CMOS数字集成电路设计和制造的重要步骤，包括功能测试，检查裸片是否有残余失效，测量关键电路性能，以及确认该产品的可靠性和稳定性。最近的技术发展加速了CMOS数字集成电路的测试，新开发的检测技术使得CMOS芯片可以有效而快速地测试，同时也为芯片的可靠性提供了更强的保障。
因此， CMOS数字集成电路的分析与测试在电子设计中都具有重要意义，可以实现准确快速的CMOS电路设计，并保证芯片的可靠性。必须始终将其纳入设计中，以便确保成功设计CMOS数字集成电路系统。
