近年来，研究发展的数字集成电路（DIC）技术不断推陈出新，得到了越来越多的应用。为了对其稳定性、可靠性、参数性能进行测试，必须具备一台高精密先进、设备完整、性能卓越的数字集成电路参数测试仪。
根据待测对象的特性，数字集成电路参数测试仪的设计既包括外围设备的设计，又涉及到DIC板卡上电路的设计方案。外围设备主要包括电源，屏幕和按键，采用圆柱波特率滤波等方式，将外部输入的单片机程序下载到DIC上；屏幕的设计有利于直观查看系统的测试结果，简化人机接口；按键可以控制系统运行方式，实现系统的启停功能、系统状态切换功能等。
在DIC板卡上，参数测试仪的设计要满足精密度高、通信速度快、开发时间短的要求，使片上参数测试仪芯片按照数据隔离和数字灌流的方式进行设计，采用数字测试和电路板测试的方法，结合复杂的算法程序，从宏观上进行系统调试，精确检测参数测试仪参数性能，保证数据的准确性。
本文综合介绍了数字集成电路参数测试仪的设计方案，以及外围设备的设计，以实现高精度参数测试仪的运作，为DIC技术的适用性、可靠性、参数性能提供可靠的数据支持和参考。
